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D8反射率测定仪

D8反射率测定仪

  • With or without texture
  • 量测时间单点<0.2S,精确度高
  • 重复性(STD10次1Sigma):<0.05%
  • 反射率测量范围:0-100%
  • 标准片具有特殊表面粗糙度处理
  • 适用于表面粗糙度大的Sample
  • 电动XY平移台,可自动选择量测位置
  • 量测Solar Cell反射率,抗反射层(减返层)膜厚,量测时间1-3S
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